半导体测试

面向功率器件(IGBT/SiC/GaN)、集成电路与晶圆级测试,三海科技提供从静态参数、双脉冲动态特性到探针台方案的完整半导体测试能力,设备与软件均可按需求自主集成。

覆盖领域

  • 功率器件
  • 集成电路
  • 第三代半导体
  • 晶圆代工
  • 封装测试

推荐配置

推荐设备:半导体参数分析测试系统、功率器件静态参数测试系统、双脉冲测试、静态参数测试、晶圆探针测试方案

具体方案与报价请联系我们,工程师将根据您的被测对象与测试项目提供选型建议。

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