电信号测试系统
MOSFET（Si/SiC/GaN）静态参数测试：转移特性、输出特性、Vth、Rds(on)、Igss等参数扫描测量。
本系统源表协同调度逻辑、特性曲线拟合算法、参数自动判定逻辑由内部团队独立开发，扫描方案可灵活配置。
具体型号、指标与报价请与我们联系，工程师将根据您的被测对象与测试项目提供选型建议与方案。
产品咨询电话：199 1447 8851
自动完成栅极、漏源端多工况扫描，生成转移特性、输出特性曲线，提取阈值电压、导通电阻、漏电流等静态参数。
SiC MOSFET、Si MOSFET、GaN 器件等功率半导体分立器件。
注：本页为产品系列介绍，完整指标、规格文档请联系我方工程师获取。
