半导体测试系统
自动完成击穿电压、阈值电压、导通电阻、漏电流、结电容等静态参数分选。
具体型号、指标与报价请与我们联系，工程师将根据您的被测对象与测试项目提供选型建议与方案。
产品咨询电话：199 1447 8851
1、双脉冲法动态参数测试，结果高重现性
2、I-V/C-V/脉冲多单元灵活组合
3、支持12"/8"/6"晶圆级测试并可升级全自动
4、软硬件一体交钥匙交付，含培训与技术支持
功率半导体、第三代半导体（SiC/GaN）、集成电路的设计验证与量产测试。
注：本页为产品系列介绍，完整指标、规格文档请联系我方工程师获取。
